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021 68413991
產品中心
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V5R電阻層析成像儀器

運行
測試主體: ERT-電阻層析成像儀器
點擊數及分布: 32個電極: 每個面 16電極 x 1個測試斷面, 16 x 2 planes, 8 x2 或8x4分布.
傳感測量協議:非導圓形容器圖像重建算法:線性反投影法(LBP)

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運行
測試主體: ERT-電阻層析成像儀器
點擊數及分布: 32個電極: 每個面 16電極 x 1個測試斷面, 16 x 2 planes, 8 x2 或8x4分布.
傳感測量協議:非導圓形容器圖像重建算法:線性反投影法(LBP)

系統性能
重復性(測量精度%)
Cycle no.
4.7kohm/ 2.2kohm Resistor network (%)
10kohm/ 22kohm Resistor network (%)
1 0.713
0.660
2 0.405 0.425
4 0.248 0.284
5 0.184 0.238


采集速度(基于每個位面16個電極)
Cycle no.
每幀速度(104測量點@mS)
每秒幀數(幀/秒)
1 1.6 625*
2 3.2 312
4 6.4 156
5 8 125*

*幀采集速度:
a)最大。 625幀/ S @ 1周期和125幀/秒,5個周期@一個通道,16個電極
b)最大2500幀/ S,1個周期@一個通道,8個電極


硬件
輸入:非導通相鄰,0V至5V
注入頻率:10kHz
輸出:-10V(pp)至+ 10V(pp)
內存:8MB RAM
模擬輸入通道數和分辨率:40個不同通道或80個單端通道,16位分辨率
輸入范圍:±10V,±5V,±2,±1,±0.5V,±0.2V,±0.1V
采樣率:750kS / s多通道
模擬輸出通道數和分辨率:2,16位分辨率I / O端口數量:24個(8個有波形特性)
外部模擬IO盒:4通道輸入4-20 mA,3通道4-20 mA輸出。


設計 
DAS板:NI USB 6255
振蕩器:80MHz(8個采樣周期)
激勵次數:1,2,4,5
測量模式:順序
靈敏度:3.2uV @增益x50
解調類型:相敏解調


轉換接口
串行數據接口:USB 2.0高速接口
相移補償:0.1o至180.0o


電源
輸入: 100 – 240 V a/c, 50/60 Hz 1.5A 
消耗功率: DC 24 V 45W


軟件
GUI圖形用戶界面: LabVIEW 
儀器控制:相鄰傳感協議測量
重建圖像:LBP顯示
數據分析:查看斷層掃描數據
輸出:輸出原始電壓測量和電壓曲線


控制計算機配置要求 
GUI: Windows 7 (32 bit) 
CPU: Pentium 4 or above 
Memory: 16GB

上海市靜安區江場一路18號華瑞大廈604室

Tel: +86-21-6841 3991 

Mobile: 13918893919

Fax: +86-21-6051 8633

E-mail:

xuefeng.xi@rnwtech.com  


 聯系方式
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